場發射式掃描式電子顯微鏡

FE-SEM (Field Emission Scanning Electron Microscope)
環保製程獎章認可製程優勢

高解析的掃描式電子顯微鏡, 最高可放大至10萬倍觀察物體表面的形貌或是觀察鍍層晶格。

例如:在50K倍率下觀察不同金的表面形貌

15.0kV 12.3mmx50.0k
15.0kV 12.3mmx50.0k

15.0kV 12.3mmx50.0k

15.0kV 12.3mmx50.0k
15.0kV 12.3mmx50.0k

15.0kV 12.3mmx50.0k

 

 

 

台灣上村和全體員工致力於提供創新技術和新產品解決方案。

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