掃描式電子顯微鏡SEM
SEM是觀察物體表面的形貌，觀察清楚常用的倍率為1K~5K。
範例:拍攝不同鎳鍍層的形貌
15.0kV 12.3mmx50.0k
台灣上村和全體員工致力於提供創新技術和新產品解決方案。
如果您有任何特殊製程和新製造技術的需求，請與我們連絡。
Email：
Email： 